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表面测量仪器简介

表面测量仪器

表面测量仪器简介

 表面粗糙度测量仪是评定零件表面质量的台式粗糙度仪。可对多种零件表面的粗糙度进行测量,包括平面、斜面、外圆柱面,内孔表面,深槽表面及轴承滚道等,实现了表面粗糙度的多功能精密测量。

表面测量仪器产品

型号 品牌 产品描述 类型 操作
东精精密圆度、圆柱度仪 东精精密圆度、圆柱度仪< 东京精密圆度仪54DX/54SD 测量方式手动自动 测量范围 最大测量直径300mm 左右移动范围(R轴) 170mm 上下移动范围(Z轴) 300mm(高立柱: 500mm) 最大装载直径580mm 最大测量高度外径: 300mm(高立柱: 东精精密圆度、圆柱度仪 立即询价
日本三丰 RA-120、RA-120P 圆 日本三丰 RA-120、RA-120P 圆< RA-120 三丰圆度仪 工作原理: 圆度仪采用半径测量法,工作旋转式。该圆度仪旋转轴系采用高精度气浮主轴作为测量基准;该圆度仪电器部分由高级计算机及精密圆光栅传感器、精密电感 日本三丰 RA-120、RA-120P 圆 立即询价
Surtronic R-100 系列圆度仪 Surtronic R-100 系列圆度仪< 仪器简介与特点: 专业的圆度快速测量系统,触摸屏程序操作,搭载快速定位系统,精度高,重复性好,测量快捷方便,是泰勒霍普森公司对仪器行业的最新贡献。快速测量与高精度的 Surtronic R-100 系列圆度仪 立即询价
Talyrond 565-585 圆柱度仪 Talyrond 565-585 圆柱度仪< 仪器简介与特点: 泰勒霍普森公司最新产品。全世界范围内彻底颠覆单纯的圆度测量观念,第一次在圆度测量领域中引入圆度、粗糙度、轮廓的同时测量功能,荣誉体现英国泰勒霍普森 Talyrond 565-585 圆柱度仪 立即询价
三维台阶仪 三维台阶仪< 仪器简介: 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描完美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整 三维台阶仪 立即询价
Dektak XT台阶仪 Dektak XT台阶仪< 探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak XT台阶仪 立即询价
Kosaka小板 台阶仪 ET200 Kosaka小板 台阶仪 ET200< 产品简介 ET200 能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。ET200配备了各种型号探针,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探 Kosaka小板 台阶仪 ET200 立即询价
RTEC 台阶仪 RTEC 台阶仪< Rtec台阶仪 特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜 白光干涉 白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式 RTEC 台阶仪 立即询价
台阶仪 台阶仪< 台阶仪 厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠加 (无任何减噪修正,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针 NanoMap-PS是一款专门为 nm级薄膜 测量研发的 无需防震台 即可测量的接触式 台阶仪 台阶仪 立即询价
台阶仪 台阶仪< 探针接触式 台阶仪 Step Hight Measurement 厚度47nm光栅标准样品,三次重复测量结果(无任何减噪修正,原始数据输出) NanoMap-PS是一款专门为 nm级薄膜 测量研发的 无需防震台 即可测量的接触 台阶仪 立即询价
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